原子力顯微鏡測試服務(wù)包括：

                       超高分辨率、超高一致性的表面形貌測試 （Topography imaging） 

                        穩(wěn)定可靠的納米尺度的導(dǎo)電性能測試 （EFM，C-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR）  

                        穩(wěn)定可靠的納米尺度的磁性性能測試  (MFM)

  即將推出納米壓痕測試服務(wù)，液態(tài)成像測試服務(wù)以及生物樣品測試和咨詢服務(wù)等。 

北京五澤坤科技有限公司是中國唯一專注于納米技術(shù)，特別是原子力顯微鏡探針/針尖(AFM probes)相關(guān)技術(shù)及其產(chǎn)品、配件的研發(fā)和銷售的科技公司。
材料和納米科技進(jìn)步改變和影響人類的文明進(jìn)程，這些技術(shù)的發(fā)展對相應(yīng)的表征科學(xué)儀器不斷提出更高的要求。納米科技是指對尺度在1-100nm的材料、分子及原子的特殊物理化學(xué)性能的研究和應(yīng)用。原子力顯微鏡具有極高的分辨率和易用性，廣泛應(yīng)用于力學(xué)、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)以及生化等領(lǐng)域。1981年，STM由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 發(fā)明。1982年，Binnig首次觀察到原子分辨圖Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate開發(fā)成功了首臺原子力顯微鏡（AFM）。在納米技術(shù)領(lǐng)域，SPM逐漸發(fā)展成為重要的多功能表征工具。五澤坤公司的原子力顯微鏡探針/針尖包括接觸模式（contact mode），非接觸模式（non-contact / tapping mode）探針，生物應(yīng)用探針，導(dǎo)電探針（EFM, c-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR），磁性探針（MFM）, 壓痕及刻蝕探針，F(xiàn)orce modulation probes, Lateral mode probes等。
公司的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和工程師在近10年來活躍在納米表征、掃描探針以及半導(dǎo)體行業(yè)。公司在美國的研發(fā)中心最近開發(fā)的超細(xì)納米針尖包括形貌高分辨針尖，特別是導(dǎo)電、磁性針尖，徹底克服了目前依靠磁性和導(dǎo)電金屬鍍層的針尖極易磨損的缺點(diǎn)。新產(chǎn)品具有使用壽命長，一致性好等突出優(yōu)點(diǎn)。目前有四個(gè)新產(chǎn)品申請了美國和中國專利。公司多名研發(fā)人員獲得美國著名大學(xué)博士學(xué)位，對原子力顯微鏡，探針/針尖相關(guān)技術(shù)和應(yīng)用有豐富的經(jīng)驗(yàn)，并能為客戶提供良好的技術(shù)咨詢和服務(wù)。
公司供應(yīng)各種型號原子力顯微鏡探針/針尖：接觸模式（contact mode），非接觸模式（non-contact / tapping mode）針尖，生物應(yīng)用針尖，導(dǎo)電針尖（EFM, c-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR），磁性針尖（MFM）, 壓痕及刻蝕針尖，F(xiàn)orce modulation probes, Lateral mode probes等。

原裝進(jìn)口，現(xiàn)貨供應(yīng)，價(jià)格優(yōu)惠，服務(wù)至上！

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