⮚ 突破樊籬，自由之“翼”
 

X LINE物鏡 全稱平場二代超復消色差物鏡(PlanXApo)，在平場超復消色差（PlanSApo）物鏡的技術基礎上突破創新，在平場性、色差矯正和分辨率三項技術的層面兼收并舉，同時囊括三項技術的尖端參數要求，滿足高質量、大視場、高分辨率精確成像的要求，可以說，一枚物鏡就可以讓我們看得更多、更細、更美，也更自由。
 

 

 

 

X LINE物鏡 成像平場性大幅度提升，圖像從中心一直到邊緣都能夠保持均勻的高畫質；高數值孔徑（NA）使物鏡能夠收集更多的光束，降低光毒性光漂白，呈現出更亮、分辨率更高的圖像；卓越的色差校正能力，在全光譜上都提供了更好的色彩精確度，校準了紫光色差后可以獲得清晰的白色和鮮明的粉色，提升圖像色彩還原度、對比度和銳度。無論是在病理切片或是熒光成像觀察中，新物鏡都會有出色的表現。
 

此外，提升平場性后在整個視場上能夠提供連續的高質量圖像，即便使用大靶面sCMOS相機也能出色完成精確拼圖實驗。
 

 

 

⮚ 卓卓可道，光芒之“曜”
 

 

A LINE物鏡 為特殊應用設計專屬物鏡，包括超分辨物鏡、硅油物鏡、多光子物鏡及共定位物鏡等一系列針對特殊應用實驗需求設計的超常規物鏡。
 

高數值孔徑（NA）對于超分辨率成像至關重要，專利的拋光技術使我們創造出了世界上首款NA為1.5的平場復消色差物鏡（UPlanApo）。
 

 

以應用需求為最優標準的曜家族物鏡，除了NA1.5, NA1.7的高分辨率物鏡之外，還有更多各具特色和專長的成員：

•   為活細胞和活體組織成像而優化的硅油浸物鏡，與奧林巴斯超分辨率系統組合使用時能夠使用戶觀察到樣品從表面到內部深處的顯微結構。

•   為塑料底培養皿內的熒光和相襯成像設計的UCPLFLN20XPH物鏡。采用高數值孔徑（NA）后整個物鏡的大視野都可達到明亮而均質，而校正環和長工作距離通過不同的細胞培養皿優化了圖像。

•   為共定位熒光信號分析實驗設計的共定位物鏡（PlanAPON60XOSC2。 熒光信號共定位分析的問題在于需要具有卓越光學設計的物鏡來校正色差。共定位物鏡（PlanAPON60XOSC2）最大程度減小了色差的極值范圍，提供了0.1 μm或更小的軸向色差。在多色標記共定位實驗中節省時間和資源，無須進行處理后調整。

 

 

為了提供更出色的光學性能，幾代奧林巴斯匠人潛心琢磨，用數十年的攻堅讓透鏡跨入纖薄時代。為此我們研發了專利的透鏡拋光技術，使凹透鏡中心凸透鏡邊緣更薄但其光學性能卻更出色，纖薄的鏡身讓使用者能夠在相同的空間內加入更多透鏡組，有效提升像差校正能力（色差、球差、場曲、彗差等），讓采集的圖像更精準。
 

 

 

纖薄的鏡身也讓我們在提升物鏡分辨率直接相關的數值孔徑（NA）時有了自由發揮的空間。市面上許多常規物鏡，單純為追求高分辨率而放棄了物鏡在平場性和色差校準能力這兩大重要指標方面的要求，又或是色差校準能力提升而又不得不降低數值孔徑的要求，甚或無奈之下，采用超大規格物鏡設計，以彌補難以達到苛刻的透鏡加工精度要求的缺陷。
 

奧林巴斯不但創新研發纖薄透鏡拋光技藝，還在物鏡組裝技術上精益求進，纖薄透鏡組裝精度可達納米級，以高標準開發出兼顧數值孔徑、平場性和色差校準三項指標的全新系列物鏡。

 

 

 

從人類歷史上誕生第一臺顯微鏡開始，歷經了漫長而曲折的成長過程，顯微鏡為人類了解微觀世界立下了不朽的功勛。而以顯微鏡起家的奧林巴斯，自誕生就對制造高性能的顯微鏡的夢想發起了進攻，在百年的發展中始終堅守初心，以不斷創新的姿態研發新品，此次發布的技術革新系列物鏡，更是奧林巴斯人凝聚匠心，對以往顯微技術發起沖擊，研發的兼顧數值孔徑、平場性和色差校準三項指標的高標準全新系列物鏡，將帶給使用者極致的使用體驗。未來，奧林巴斯將繼續懷揣信念克服種種困難，堅持對細節的嚴格把控，以革新的精神勇往直前。