科研工作者或工藝開發人員如果想發現新的應用，開發新材料或創造更高質量的產品，提高產品性能，往往需要在極高放大倍數下，觀察材料清晰的微觀形貌。然而光學顯微鏡和傳統鎢燈絲掃描電鏡無法提供高分辨率的成像，這時，就需要應用場發射掃描電鏡（FEG - SEM）。

場發射燈絲可以提供穩定、高亮度電子束，因此納米顆粒的形貌、薄膜中的極微小的缺陷、絕緣材料或對高能量電子束敏感的材料，只有通過使用場發射掃描電鏡才能得到良好的表征效果。
 

銅鉀晶體

眾所周知，落地式場發射掃描電鏡體積大，通常需要一個專門的房間以及磁場、震動屏蔽設備，同時操作也較為復雜。因此，許多擁有落地式場發射電鏡的單位會限制設備使用，只允許受過高階培訓的人員操作。許多研究小組、部門或公司會將場發射掃描電鏡的測試需求外包給第三方實驗室或測試中心，以避免在 FEG-SEM 的管理和使用中出現問題。

現在，這種顧慮已經消失了。Phenom Pharos G2 是全球唯一的臺式場發射掃描電鏡。它非常容易安裝和操作，可以使研究小組、部門或公司擁有自己的 FEG-SEM，不再依賴外部測試服務。

Phenom Pharos G2 對占地面積要求較小，只需一張承重 150kg 的桌子，不僅節省空間，同時也不需要配備其他附加設備。

光學顯微鏡具備可變焦、明暗場成像功能，在整個 SEM 拍攝過程中輔助我們導航和定位需要觀察的特征位置。一鍵式進入 SEM，全自動送樣，抽真空，開高壓，自動對焦，全程僅需 30 秒，即可快速得到高清圖像，輕松獲得所需要的放大倍數。

Phenom Pharos G2 臺式場發射掃描電鏡作為一款高效且易于使用的桌面式掃描電鏡，為各種材料提供高分辨率成像，也可以對各類電子束敏感樣品進行成像，將研究領域擴大到藥物、聚合物和有機材料等。

與其他掃描電鏡相比，場發射電鏡在低加速電壓下仍具有較好性能，無需對樣品進行特殊處理，就可直接對絕緣材料和電子束敏感材料進行成像，同時不會損壞樣品，不會掩蓋納米級特征。

Phenom Pharos G2 的電子束能量范圍大，利用低電壓能夠對電子束敏感的樣品成像。例如，用于水凈化的沸石，常用藥片或膠囊的藥物粉末，以及以尼龍、聚酯、氨綸和芳綸為原料的聚合物纖維。對于這些樣品，如果使用高能量的電子束進行成像，樣品會受到明顯損傷，所以需要使用低能量電子束進行成像。
 

沸石

聚合物纖維
 

藥物粉末

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Phenom 臺式掃描電鏡重新定義了速度、簡易性和優異性能的完美統一。所有 Phenom 臺式掃描電鏡都支持選配 X 射線能譜儀（EDS），且元素分析與掃描電鏡有機結合到一起，形成統一、用戶友好的軟件操作界面，任何操作者都能在幾分鐘內獲得 SEM 圖像和元素分析結果。簡單、易操作的飛納電鏡是材料科學者的理想選擇，不同研究背景的人員都能獲得想要的測試結果。