萬深檢測科技www.wseen.com與中國水稻所合作，歷經4年研發推出的SC-E型大米外觀品質檢測分析系統圖像法已獲批準為農業部新標準【大米】 NY/T 2334-2013。該系統結合國家標準能完成對稻谷和大米質量指標的自動檢測，可代替人工對外觀品質指標進行準確客觀的評價，適用于科研院所、檢測單位、糧食流通企業、加工企業等。該分析系統已先期獲得了近50家高端科研機構與大米生產廠家的良好使用和認可，儀器的分析精準度、穩定性均達到前所未有的高度。

 

    SC-E型大米檢測分析系統可自動分析各類大米的各項主要外觀指標，單次同時檢測量在30g大米樣品以上。對透掃成像的大米可自動分析：數粒、粒形、碎米率、整精米率、透明度、精度、堊白粒率、堊白度等。對反射稿成像的大米可自動分析：數粒、粒形、碎米率、黃米粒、異品種和雜質等，并實現分類分析。被檢測的大米不需要特定排樣，由系統的算法自動分割開，允許修正各類結果以確保100%正確。分析時間每樣品約1分鐘，各項分析最大誤差均控制在1～2%以內。具有大批量自動處理、一鍵式自動分析特性。非常方便普通人員上手使用，檢測分析結果和每粒的詳細結果均可導出至EXCEL表。