據美國R&D Magazine最新消息，由上海澤泉科技有限公司代理的美國Phenotype Screening公司植物根系X-光掃描分析系統ROOTVIS FS榮獲美國R&D100大獎殊榮.

美國Phenotype Screening公司的植物根系X-光掃描分析系統是在美國能源部創新項目資助下研發成功的一套新型、高效率、高精度、非破壞性的測量系統，用于對盆栽植物的根系進行原位成像分析，可以拍攝根系的立體X-光照片。

詳見： http://www.rdmag.com/awards.aspx?CommonCount=0

這套系統是植物根系研究領域繼根視（rhizotron）系統（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系統）后最激動人心的發明。根視系統需要將根取出清洗后，借助掃描儀進行分析，這個過程往往會折斷植物的根尖等脆弱部分，而且屬于離體分析，不能進行動態監測。而植物根系X-光掃描分析系統是非破壞性的原位分析系統，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生長的不同階段對根系的生長進行長期動態監測。這套系統非常適合于研究植物根系對脅迫的動態響應。



上海澤泉科技有限公司
網址： http://www.zealquest.com
電話：021-51556114/115/116/117/118
email: sales@zealquest.com